业务内容

作为一家利用光技术的公司，大塚电子始终处于时代的最前沿。我们始终与客户密切合作，进行新技术的开发。通过融合自公司成立以来积累的核心技术，我们逐步开拓测量仪器和分析仪器等业务。

关于测量仪器

「作为分光测量的领军者，我们引以为豪的是不断进取，从光源、照明、材料膜厚测量，一直发展到探索新的领域。」

在1980年代初期，自动记录光度计作为分光测量中不可或缺的主流，采用的是通过信号条移动光栅的机制。当时拥有独特产品特长的大塚电子公司，采用了同时期最先进技术——光电二极管阵列作为传感器，并在光学系统中使用光纤，通过计算机控制，创造出了具有划时代意义的分光分析装置「多通道分光光谱仪(MCPD)」，给科学测量设备行业注入了新风。

由于MCPD是一个全新概念的检测器，因此刚开始时被限制在大学和先进的研究部门中使用。

但是，我们引入了数字技术来替代传统的模拟技术，进行了软件开发和应用开发，以满足客户的需求，并建立了相应技术。不久之后，新概念的价值得到了理解，并被采纳于电子及其他许多行业中，我们提供的系统可以覆盖从研究开发、生产线、质量管理等广泛领域。现在，MCPD是大塚电子光测量设备的核心。

以MCPD为基础开发的产品中，例如膜厚测量设备，可在处理半导体晶圆上生成的膜的同时进行测量，以及在生产线上测量食品包装用薄膜的膜厚的设备等。在其他领域中，还有评估光源本身的如LED和车前灯等装置的设备，以及液晶电视和平板电脑用零部件的评估设备，以及用于显示器生产线的评估设备等。

分光测量业务将持续不断地向小型检测器添加不同的新技术，不断开发高精度、高灵敏度、易于使用的设备，以满足各种领域的需求。

关于分析仪器

「基于光散射技术不断发展，拓展未来的新材料、纳米技术领域等广泛应用」

利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。

大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售独特的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、官方机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发绝对分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本唯一的国产制造商，获得了极高的信任。

以纳米粒子为代表的10亿分之一米规模的新材料开发发展迅速。大塚电子的主要产品是利用“动态光散射法”技术来测量溶液中的纳米粒子。我们可以自豪地说，在业界开始将“动态光散射法”应用于纳米粒子分析时，我们是最早的之一。随着纳米技术和纳米材料市场的迅速扩大，利用光散射产品进行纳米粒子的物性评估的必要性不断增加。例如，通过将材料纳米化来发现新功能，使最终产品具有更高的质量等，有各种可能性。纳米技术、生命科学、高分子化学、新材料、食品、化妆品、环境，以及半导体和医药领域的技术不断发展。我们将继续提供分析手段和可靠性高的产品，以满足从研发到质量管理各方面的需求。