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产品信息
特点
●采用线扫描方式检测整面薄膜
●硬件&软件均为创新设计
●作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援
●实现高精度测量（已获取专利）
●实现高速测量
●不受偏差影响
●可对应宽幅样品（TD方向最大可测量10m）
式样
| 膜厚范围 | 0.1～300 μm |
测量幅度 | 500 mm～最大10 m |
测定间隔 | 1 ms～ |
装置大小(W×D×H） | 81×140×343 mm |
重量 | 4 kg(仅头部) |
最大功耗 | AC100 V±10% 125VA |
测量案例
500mm宽的包装薄膜
