日本語   |   English

您的位置： 首页-新闻资讯-公司新闻

新闻资讯

公司新闻

行业资讯

相关产品

  • 多样品纳米粒子径测试系统·nanoS···
  • ZETA电位 · 粒径 · 分子量····
  • 量子效率测量系统 QE-2100
  • 膜厚量测仪 FE-300
  • Load Port对应膜厚测量系统 ···
  • 小角激光散射仪 PP-1000
  • 多通道光谱仪 MCPD-9800 /···
  • 高灵敏度近红外量子效率测量系统 QE···

    • 平板ZETA电位测量-苏州线上讲习会（2023-11-22）

    作者：超级管理员时间：2023-11-14 11:11:3979 次浏览

    信息摘要：

    大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括：纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...

    1699004202212854.jpg

    【相关推荐】

    返回列表 本文标签：
    公司新闻-大塚电子（苏州）有限公司
    平板ZETA电位测量-苏州线上讲习会（2023-11-22）-公司新闻-非接触薄膜测厚仪-膜厚测量仪-激光粒度仪-激光粒度分析仪-大塚电子
    微信咨询
    咨询热线
    0512-62589919
    • 联系我们
    • 邮 箱：oes@otsukael.com.cn‬‬‬
    • 电 话：0512-62589919
    • 传 真：0512-62589919
    • 地 址：苏州工业园区苏州大道西2号
    • 国际大厦1101-1105室

    Copyright © 2021-2025 大塚电子有限公司 All rights reserved. 　备案号：苏ICP备13028874号-1

    LINKS

    0512-62589919