在各种高分子领域中，卷对卷的膜层涂布是其中一段生产过程，在监控膜厚时为了保持商品的完整性，无法以接触式方法量测。
而在生产速度等于产值下，卷膜速度越快代表产量越高。卷膜速度除了考验生产机台本身以外，对光学式量测膜厚的稳定度也是一大考验。因为卷对卷通常都会有一定程度的震动，速度越快震动幅度越大，十分考验膜厚仪的感度(曝光时间)以及稳定度。
下面实际呈现产线以极限速度(150m/min & 200m/min)卷对卷生产条件下，MCDP光谱仪对膜厚的监控数据。
| 测量条件 MCPD-9800(311) Fiber |
| 测量项目：反射率、膜厚 |
| 波长测量范围：400~760nm |
| 自动曝光时间：6msec |
| 积算次数：4次 |
| 测量光斑(Spot size)：约3mm |
| 工作距离：约10mm |
| 系统构成 |
 将光纤探头布置于涂布工序在线监控膜厚 |
 MCPD-9800多通道光谱仪及分析软件 |
我们可以先以静止测量来观察机台本身稳定度，标准偏差为0.0056μm，相对平均值而言大约为0.028%。接着可以看到150m/min & 200m/min速度下卷膜时，厚度的变动。高速运转下量测之稳定性较差，但膜厚数值差异不大。
