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SEMINAR
讲习会
AR/VR/MR/XR行业测量方案介绍
2026/2/26 15:00~15:45丨苏州线上讲习会
展会介绍
・VR pancake模组的偏光片贴合角、相 位差测量
・LCoS液晶盒盒厚检测
・Micro OLED薄膜厚度、彩色滤光片特性评估
・透光多层材料中的异物检测
・和上述关联的AR/VR/MR/XR终端研发
晶圆和浆料静电相互作用的评估与半导体工艺技术简介
2026/1/22 15:00~15:45丨苏州线上讲习会
展会介绍
研磨液、半导体研磨工序、CMP及BG设备商，
临时键合及蚀刻工序、半导体缺陷检测、相关大学及研究机构。
纳米粒度和Zeta电位设备在生物医药行业的应用
2025/12/18 15:00~15:45丨苏州线上讲习会
展会介绍
①蛋白质，脂质体，外泌体等生物医药测试案例
②高盐浓度环境zeta电位测试案例
③生物相容性材料的表面zeta电位测量
膜厚仪的测试 手法、操作技巧及故障排除
2025/11/27 15:00~15:45丨苏州线上讲习会
展会介绍
无法测出正确的反射率、测试数据波动大、解析条件如何设置？拟合度差,nk怎么解析？
是对焦位置不正确？是镜头选用不正确？还是测试条件&解析条件设置有误？
如果您也有同样的测试困惑，请一定参加我司的网络学习会。
由日本粒径测量专家讲解的DLS测量手法及技巧介绍
2025/10/23 15:00~16:00丨苏州线上讲习会
展会介绍
使用ELSZ系列、nanoSAQLA等测量设备或对此有兴趣的人。
半导体、FPD，光学薄膜行业的在线嵌入式厚度解决方案
2025/9/25 15:00~15:45丨苏州线上讲习会
展会介绍
本次学习会介绍我司膜厚设备在半导体各工序的测试方案。从成膜工艺~晶圆研磨过程监控。大气、真空等复杂环境条件下的嵌入式在线厚度评价。对CMP,BG研磨过程监控,OLED成膜工艺在线评价感兴趣的各界人士，欢迎收看。
偏光片相位差·吸收轴测试原理及应用案例
2025/8/28 15:00~15:45丨苏州线上讲习会
展会介绍
偏光片、相位差膜、液晶盒、液晶涂布膜客户，以及对偏光、相位差测量技术感兴趣的各界宾客。
光波动场三次元显微镜MINUK的介绍
2025/7/24 15:00~15:45丨苏州线上讲习会
展会介绍
面向高性能薄膜、玻璃等透明材料以及半导体晶圆表面和内部的缺陷、划痕、填充物等，
我们将介绍搭载大塚电子前所未有的独创技术的光波场三维显微镜的概要及典型应用。
那些以往看不见的东西，如今能够简单、快速地呈现在眼前，从而为客户提供全新价值。
粒径分布 · Zeta电位测量原理及最新的测量案例介绍
2025/6/26 15:00~15:45丨苏州线上讲习会
展会介绍
讲习会内容涉及粒径&ZETA电位的测量原理和最新的测量案例介绍（炭黑，有机溶剂，碳纳米管）
膜厚设备介绍（smart膜厚仪）
2025/5/22 15:00~15:45丨苏州线上讲习会
展会介绍
应用领域：光学膜、接着剂、硬化涂层、半导体光刻胶、食品用薄膜、医疗用薄膜等。
对于半导体前工序的多种需求 大塚膜厚仪的特点和作用
2025/4/24 15:00~16:00丨苏州线上讲习会
展会介绍
● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。
光波动场三次元显微镜MINUK的介绍
2025/3/27 15:00~16:00丨苏州线上讲习会
展会介绍
MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。
晶圆和浆料静电相互作用的评估与半导体工艺技术简介
2025/2/26 15:00~16:00丨苏州线上讲习会
展会介绍
大塚电子（苏州）有限公司产品讲解：ELSZneo、nanoSAQLA,OPTM,SF等
AR/VR/MR/XR行业测量方案介绍
2025/1/23 15:00~16:00丨苏州线上讲习会
展会介绍
VR pancake模组的偏光片贴合角、相位差测量、LCoS液晶盒盒厚检测Micro OLED薄膜厚度、彩色滤光片特性评估、和上述关联的AR/VR/MR/XR终端研发
DLS测量手法及技巧介绍
2024/12/18 15:00~16:00丨苏州线上讲习会
展会介绍
使用ELSZ系列、nanoSAQLA等测量设备或对此有兴趣的人。
平板状·薄膜状样品的Zeta 电位测量与应用的介绍
2024-11-27 15:00~16:00丨线上讲习会
展会介绍
大塚电子的 Zeta 电位测量系统“ELSZ 系列”不仅可以测量溶液中胶体粒子的 Zeta 电位，也可以测量平板状、薄膜状样品的 Zeta 电位。通过这样的测量可以评价平板状样品的表面改质状态以及液体中粒子的吸着特性。本次研讨会将介绍其应用。
纳米粒度仪的基本操作&故障排除
2024-10-23 15:00~16:00丨线上讲习会
展会介绍
无法测试出预想的结果，测试数据波动这么大？是设置环境的不当？运用方法不对？
还是测试条件设置有误？如果您也有同样的困惑，请记得务必参加我司的网络学习会。
AR/VR/MR/XR行业测量方案介绍
2024-9-25 15:00~16:00丨线上讲习会
展会介绍
AR/VR/MR/XR行业测量方案介绍
显微分光膜厚仪的晶圆图案对位功能介绍
2024-08-28 15:00~16:00丨线上讲习会
展会介绍
大塚电子利用光技术，开发出各种分析测量装置，给客户提供尖端测量技术支持。
晶圆和研磨液静电相互作用的评价方法和半导体制程技术介绍
2024-07-24 15:00~16:00丨线上讲习会
展会介绍
大塚电子利用光技术，开发出各种分析测量装置，给客户提供尖端测量技术支持。
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