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AR/VR/MR/XR行业测量方案介绍

1.VR pancake模组的偏光片贴合角、相位差测量 2.LCoS液晶盒盒厚检测 3.Micro OLED薄膜厚度、彩色滤光片特性评估 4.透光多层材料中的异物检测 5.和上述关联的AR/VR/MR/XR终端研发

晶圆和浆料静电相互作用的评估与半导体工艺技术简介

研磨液、半导体研磨工序、CMP及BG设备商，临时键合及蚀刻工序、半导体缺陷检测、相关大学及研究机构。

膜厚仪的测试手法、操作技巧及故障排除

无法测出正确的反射率、测试数据波动大、解析条件如何设置？拟合度差,nk怎么解析？是对焦位置不正确？是镜头选用不正确？还是测试条件&解析条件设置有误？如果您也有同样的测试困惑，请一定参加我司的网络学习会。

AR/VR/MR/XR行业测量方案介绍

1.VR pancake模组的偏光片贴合角、相位差测量 2.LCoS液晶盒盒厚检测 3.Micro OLED薄膜厚度、彩色滤光片特性评估 4.透光多层材料中的异物检测 5.和上述关联的AR/VR/MR/XR终端研发

晶圆和浆料静电相互作用的评估与半导体工艺技术简介

研磨液、半导体研磨工序、CMP及BG设备商，临时键合及蚀刻工序、半导体缺陷检测、相关大学及研究机构。

膜厚仪的测试手法、操作技巧及故障排除

无法测出正确的反射率、测试数据波动大、解析条件如何设置？拟合度差,nk怎么解析？是对焦位置不正确？是镜头选用不正确？还是测试条件&解析条件设置有误？如果您也有同样的测试困惑，请一定参加我司的网络学习会。

由日本粒径测量专家讲解的DLS测量手法及技巧介绍

2025/10/23 15:00~16:00，苏州线上讲习会，由日本粒径测量专家讲解的DLS测量方法技巧介绍，DLS测量和分析原理、样品制备的注意点、测量·解析时的故障排除说明。

大塚电子参加第十三届半导体设备与核心部件及材料展

大塚电子诚邀您共赴半导体设备与核心部件及材料展盛会——第十三届半导体设备与核心部件及材料展（CSEAC 2025。2025年9月4日-6日，我们将在无锡太湖国际博览中心2F A6-625展位恭候您的莅临！

偏光片相位差·吸收轴测试原理及应用案例

偏光片、相位差膜、液晶盒、液晶涂布膜客户，以及对偏光、相位差测量技术感兴趣的各界宾客。

DIC EXPO 2025精选展商丨大塚电子，利用技术“光”的力量，提供完美的解决方案

粒径分布 · Zeta电位测量原理及最新的测量案例介绍

测量案例：电池行业（炭黑、碳纳米管等）、半导体行业（晶圆、CMP浆料等）、生物·医药（凝胶粒子、纳米金粒子等）、食品化妆品行业（氧化钛等）。

膜厚设备介绍（smart膜厚仪）

应用领域：光学膜、接着剂、硬化涂层、半导体光刻胶、食品用薄膜、医疗用薄膜等。

对于半导体前工序的多种需求大塚膜厚仪的特点和作用

● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成。 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。

光波动场三次元显微镜MINUK的介绍

大塚电子MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。

晶圆和浆料静电相互作用的评估与半导体工艺技术简介

大塚电子（苏州）有限公司产品讲解：ELSZneo、nanoSAQLA,OPTM,SF等

AR/VR/MR/XR行业测量方案介绍

VR pancake模组的偏光片贴合角、相位差测量、LCoS液晶盒盒厚检测Micro OLED薄膜厚度、彩色滤光片特性评估、和上述关联的AR/VR/MR/XR终端研发

DLS测量手法及技巧介绍（2024/12/18）

使用ELSZ系列、nanoSAQLA等测量设备或对此有兴趣的人。

平板状·薄膜状样品的ZETA 电位测量与应用的介绍（2024/11/27）

大塚电子的 Zeta 电位测量系统“ELSZ 系列”不仅可以测量溶液中胶体粒子的 Zeta 电位，也可以测量平板状、薄膜状样品的 Zeta 电位。通过这样的测量可以评价平板状样品的表面改质状态以及液体中粒子的吸着特性。本次研讨会将介绍其应用。

纳米粒度仪的基本操作&故障排除-苏州线上讲习会（2024-10-23）

无法测试出预想的结果，测试数据波动这么大？是设置环境的不当？运用方法不对？还是测试条件设置有误？如果您也有同样的困惑，请记得务必参加我司的网络学习会。

晶圆和研磨液静电相互作用的评价方法和半导体制程技术介绍（2024-07-24）

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括：纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...

偏光片相位差·吸收轴测试原理及应用案例-苏州线上讲习会（2024-5-22）

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括：纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...

纳米粒度和ZETA电位设备在生物医药行业的应用(2024-04-24 )

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括：纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...

膜厚度测量(反射分光)的原理和应用介绍-2024-2-28

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括：纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...

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