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膜厚分析仪的特点是什么?性能优势是什么?


相信很多人都见过膜厚分析仪,在我们日常生活中很多东西都是通过膜厚分析仪的,那么膜厚分析仪的特点是什么呢?性能优势又在哪呢?

一、膜厚分析仪的特点是什么?

快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求.

方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上先进的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高.并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低.

无损:测试前后,样品无任何形式的变化.

直观:实时谱图,可直观显示元素含量.

测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关.对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U.

可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高.所以,其测量的可靠性更高.

满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要.

性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受.

简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便.

二、性能优势是什么?

精密的三维移动平台

卓越的样品观测系统

先进的图像识别

轻松实现深槽样品的检测

四种微孔聚焦准直器,自动切换

双重保护措施,实现无缝防撞

采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度

全自动智能控制方式,一键式操作!

开机自动退出自检、复位

开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样

关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦

直接点击全景或局部景图像选取测试点

点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示测试结果

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