纳米粒度仪-粒径分析仪-zeta电位仪-晶圆检测设备-大塚电子（苏州）有限公司

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ZETA电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-2000ZS

特点使用了最新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性相转移温度可测量0～90℃大范围内的温度追加了大范围的分子量测量及解析功能...
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的最高级机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。另外，也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。全新的zeta电位平板固体样品池，通过新开发的对应高盐浓度的涂层，可以在生理盐水等高盐浓度环境下进行测量。3μL就能测定粒径的超微量样品池也位列其中，从而扩大了生命科学领域的可能性。在0~90℃的宽温度范围内，可以进行自动温度梯度测量的变性相变温度分析。...
多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA

● nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。...
多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA（带自动取样器 AS50）

产品信息特点 nanoSAQLA 的特点 1个单元可轻松连续测量5个样品实现了在没有自动进样器的情况下难以实现的多个样品的连续测量，也可以通过改变每个样品的条件进行测量。对应瘦...
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统 ELSZ-2000ZS

产品信息特点使用了最新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性相转移温度可测量0～90℃大范围内的温度追加了大范围的分子量测量...
ZETA电位 · 粒径测试系统·ELSZneoSE

本产品为粒径及zeta电位测量专用装置。ELSZneoSE选择了ELSZneo的新功能。根据用途，可以根据需要定制任意数量的必要功能。...
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的最高级机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。另外，也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。全新的zeta电位平板固体样品池，通过新开发的对应高盐浓度的涂层，可以在生理盐水等高盐浓度环境下进行测量。3μL就能测定粒径的超微量样品池也位列其中，从而扩大了生命科学领域的可能性。在0~90℃的宽温度范围内，可以进行自动温度梯度测量的变性相变温度分析。...
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的最高级机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。另外，也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。全新的zeta电位平板固体样品池，通过新开发的对应高盐浓度的涂层，可以在生理盐水等高盐浓度环境下进行测量。3μL就能测定粒径的超微量样品池也位列其中，从而扩大了生命科学领域的可能性。在0~90℃的宽温度范围内，可以进行自动温度梯度测量的变性相变温度分析。...
ZETA电位 · 粒径测试系统·ELSEneoSE

本产品为粒径及zeta电位测量专用装置。ELSZneoSE选择了ELSZneo的新功能。根据用途，可以根据需要定制任意数量的必要功能等...
ZETA电位 · 粒径 · 分子量·ELSZ-2000ZS

●可测量稀薄溶液~浓厚溶液的ZETA电位和粒径，并可进行分子量测量的检测装置。●适用于粒径测量范围（0.6nm~10um）,浓度范围（0.00001%~40%）。对电渗透流进行实测，可通过最小容量130μL 微量可抛式样品池实现...
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统 ELSZ-2000Z

产品特点：使用了最新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性相转移温度可测量0～90℃大范围内的温度追加了大范围的分子量测量等...

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高速LED光学特性仪 LE series

产品信息特点与产线的控制信号同步通过光纤的自由的测试系统实现最短2ms～的光谱测量（LE-5400）同以往的产品相比，测量、演算、评价1个周期有可到半分钟以下的高速机型测量...
光波动场三次元显微镜

MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。
分光配光测量系统 GP series

产品信息特殊长度支持长达 2400 毫米的 LED 照明灯具的光分布测量还支持有机EL和大型显示器的光分布测量可以自动控制2轴测角仪测量每个角度的光谱分布，并通过球带系数法获得总...
MCPD series 嵌入式膜厚测试型

本公司的MCPD series，由于采用柔软纤维的事，从In-Situ到内联各种各样的地方和用途的编入成为可能。测量原理为分光干涉方式，在实现高测量再现性的同时，还支持多层厚度测量。通过采用独自算法，可以高速实时监控。...
OPTM series 嵌入型

利用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点，在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。...
相位差测量装置 RETS-100nx New

产品信息特点采用了偏光光学系和多通道分光检出器有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备测量项目...
显微分光膜厚仪 OPTM series

测量项目：[膜厚、折射率n、消光系数k]. 测量原理：[分光干涉法]. 测量对象：[光刻胶、SiO2、Si3N4等]. 测量范围：[1nm~92μm]....
膜厚量测仪 FE-300

产品信息特长薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析高性能的低价光学薄膜量测仪藉由绝对反射率光谱分析膜厚完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能无复杂设定，操作简单，短時...
嵌入式膜厚检测仪

产品信息特点采用分光干涉法搭载高精度FFT膜厚解析系统（专利第4834847号）使用光学光纤，可灵活构筑测量系统可嵌入至各种制造设备。实时测量膜厚可对应远程操作、多点测量...
线扫描膜厚仪【在线型】

采用线扫描方式检测整面薄膜硬件软件均为创新设计作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援实现高精度测量（已获取专利）实现高速测量不受偏差影响可对应宽幅样...
分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3

即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色非接触式、非破坏性光学式膜厚检测采用分光干涉法实现高度检测再现性可进行高速...
椭偏仪 FE-5000/5000S

产品信息特点可在紫外和可见（250至800nm）波长区域中测量椭圆参数可分析纳米级多层薄膜的厚度可以通过超过400ch的多通道光谱快速测量Ellipso光谱通过可变反射角测量，可详细分析...
线扫描膜厚仪【离线型】

产品信息特点全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测硬件软件均为创新设计作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援实现高精度测量（已取得专利）实现高速测量（500万点...
小角激光散射仪 PP-1000

PP-1000小角激光散射仪，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，简称SALS），可以对高分子材料和薄膜进行原位检测，实时解析。与SAXS和SANS的装置相比，检测范围更广。利用偏光Hv散射测量可以进行光学各向异性的评价，解析结晶性薄膜的球晶半径，偏光Vv散射测量可以进行聚合物混合的相关距离的分析。...
高速相位差测量装置 RE-200

产品信息特点可测从0nm开始的低（残留）相位差光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) （相当于世界最快速的0.1秒以下来处理）无驱动部，重复再现性高设置的测量项目少，测量简单...
MCPD series 在线评估测试系统

本公司的MCPD series在线胶卷评价系统，由于光学式非接触·非破坏的膜厚，浓度，颜色等的检查可能。可测定膜厚范围为65nm～92μm和薄膜到厚膜都对应。（折射率1.5时）测量原理为分光干涉方式，在实现高测量再现性的同时，还支持多层厚度测量。由于采用了独自算法，可以高速实时监控，所以作为在线胶片监控，我们提出了最适合的系统。...
线扫描膜厚仪【在线型】

产品信息特点采用线扫描方式检测整面薄膜硬件软件均为创新设计作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援实现高精度测量（已获取专利）实现高速测量不受偏差影响可对应宽幅样...
多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800

产品信息特长应用广泛的测量仪。以最高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。我们可以根据客户的需求和用途提出最适合的方案。不同评价方法对应不同设备 ◎...
彩色滤光片、彩色光刻胶测量装置 LCF SERIES

产品信息特点以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装置可用于彩色滤光片的光学特性或玻璃基板...
Load Port对应膜厚测量系统 GS-300

产品信息特点支持集成到 Φ300mm EFEM 单元的备用端口实现嵌入在晶片中的布线图案的图案对齐支持半导体工艺的高吞吐量要求支持槽口对齐功能小尺寸规格高精度自动校准单元自动...
液晶层间隙量测设备 RETS series

产品信息特点采用了偏光光学系和多通道分光检出器有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备测量项目...
嵌入式膜厚检测仪

产品信息特点采用分光干涉法搭载高精度FFT膜厚解析系统（专利第4834847号）使用光学光纤，可灵活构筑测量系统可嵌入至各种制造设备。实时测量膜厚可对应远程操作、多点测量...
显微分光膜厚仪 OPTM series

●非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ●OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试，并有独家专利可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚”测试的目的。此外，软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程。...
液晶层间隙量测设备 RETS series

产品信息特点采用了偏光光学系和多通道分光检出器有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备测量项目...
OPTM series 嵌入型

利用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点，在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。...
膜厚测量系统 FE-3700/5700

产品信息特殊长度可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外，它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。用法 LCD ITO...
彩色滤光片、彩色光刻胶测量装置 LCF SERIES

产品信息特点以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装置可用于彩色滤光片的光学特性或玻璃基板...
用于透过率/吸光度测量的多通道光谱仪MCPD series

是从紫外到近红外领域对应的多功能多通道分光检测器。最短5ms即可进行光谱测量。标准装置的光纤可支持各种测量系统，而无需确定样品种类。以显微分光、光源发光、透射、反射测定为首，通过与软件的组合，也可以对应物体颜色评价、膜厚测定等。...
高灵敏度光谱仪 HS-1000

特点：采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量，对应CIE推荐的宽波长范围（355 nm至835 nm）独特的光学系统降低了...
总光谱光通量测量系统 HM/FM series

产品信息特点可处理高达2400mm的直管光学总光通量测量测量系统符合IESNA的LM-79和LM-80标准采用新的探测器，可以进行广动态范围的测量测量部分的尺寸（积分球或积分半球）从250毫...
紫外分光辐射照度测量系统 New

产品信息特征该检测器是一种高性能的分光光度计，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等方面取得了多项成果。覆盖从紫外线到可见光的宽波长范围带软件的样品照明电源...
紫外分光全光谱光通量测量系统

产品信息特征具有高灵敏度检测器的宽测量范围具有紫外线自吸收校正的高精度测量配备温度控制单元，可从-110C进行温度控制涵盖从紫外线到可见光的波长范围电源、温控单元、...
紫外分光配光测量系统

产品信息特征通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量从配光上评估紫外光的最大发光强度、光束开度、光束光通量涵盖从紫外线到可见光的波长范围支持从 LED 芯片到模块和应用...
分光辐射照度测量系统

产品信息特殊长度该检测器是一种高性能的分光光度计，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等方面取得了多项成果。覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围...
高速LED光学特性仪 LE series

产品信息特点与产线的控制信号同步通过光纤的自由的测试系统实现最短2ms～的光谱测量（LE-5400）同以往的产品相比，测量?演算?评价1个周期有可到半分钟以下的高速机型测量..
高感度分光辐射亮度计 HS-1000

特点：采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量，对应CIE推荐的宽波长范围（355 nm至835 nm）独特的光学系统降低了...
量子效率测量系统 QE-2100

产品信息特点测量精度高可瞬间测量绝对量子效率（绝对量子收率）可去除再激励荧光发光采用了积分半球unit，实现了明亮的光学系采用了低迷光多通道分光检出器，大大减少了...
高灵敏度近红外量子效率测量系统 QE-5000 New

产品信息特殊长度可以测量0.01%或更低的单线态氧的产生量子产率。单线态氧 (1270 nm) 的简单直接光谱观察可在用于生物应用等的水性溶剂中测量。传统方法难以在轻溶剂中进行测量...

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