平板状·薄膜状样品的ZETA 电位测量与应用的介绍(2024/11/27)
大塚电子的 Zeta 电位测量系统“ELSZ 系列”不仅可以测量溶液中胶体粒子的 Zeta 电位,也可以测量平板状、薄膜状样品的 Zeta 电位。通过这样的测量可以评价平板状样品的表面改质状态以及液体中粒子的吸着特性。本次研讨会将介绍其应用。
ZETA电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-2000ZS
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统·ELSZneo
多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA
多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA(带自动取样器 AS50)
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统 ELSZ-2000ZS
ZETA电位 · 粒径测试系统·ELSZneoSE
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ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统·ELSZneo
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ZETA电位 · 粒径 · 分子量·ELSZ-2000ZS
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统 ELSZ-2000Z
高速LED光学特性仪 LE series
光波动场三次元显微镜
分光配光测量系统 GP series
MCPD series 嵌入式膜厚测试型
OPTM series 嵌入型
相位差测量装置 RETS-100nx New
显微分光膜厚仪 OPTM series
膜厚量测仪 FE-300
嵌入式膜厚检测仪
线扫描膜厚仪【在线型】
分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3
椭偏仪 FE-5000/5000S
线扫描膜厚仪【离线型】
小角激光散射仪 PP-1000
高速相位差测量装置 RE-200
MCPD series 在线评估测试系统
线扫描膜厚仪【在线型】
多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
彩色滤光片、彩色光刻胶测量装置 LCF SERIES
Load Port对应膜厚测量系统 GS-300
液晶层间隙量测设备 RETS series
嵌入式膜厚检测仪
显微分光膜厚仪 OPTM series
液晶层间隙量测设备 RETS series
OPTM series 嵌入型
膜厚测量系统 FE-3700/5700
彩色滤光片、彩色光刻胶测量装置 LCF SERIES
用于透过率/吸光度测量的多通道光谱仪MCPD series
高灵敏度光谱仪 HS-1000
总光谱光通量测量系统 HM/FM series
紫外分光辐射照度测量系统 New
紫外分光全光谱光通量测量系统
紫外分光配光测量系统
分光辐射照度测量系统
高速LED光学特性仪 LE series
高感度分光辐射亮度计 HS-1000
量子效率测量系统 QE-2100
高灵敏度近红外量子效率测量系统 QE-5000 New
大塚电子的 Zeta 电位测量系统“ELSZ 系列”不仅可以测量溶液中胶体粒子的 Zeta 电位,也可以测量平板状、薄膜状样品的 Zeta 电位。通过这样的测量可以评价平板状样品的表面改质状态以及液体中粒子的吸着特性。本次研讨会将介绍其应用。
大塚电子的 Zeta 电位测量系统“ELSZ 系列”不仅可以测量溶液中胶体粒子的 Zeta 电位,也可以测量平板状、薄膜状样品的 Zeta 电位。通过这样的测量可以评价平板状样品的表面改质状态以及液体中粒子的吸着特性。本次研讨会将介绍其应用。
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大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括:纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...
包括光学显微镜和电子显微镜等。光学显微镜可用于观察晶圆表面的形貌、缺陷等,如划痕、颗粒污染等,操作简单、成本较低,但分辨率相对有限。
包括光学显微镜和电子显微镜等。光学显微镜可用于观察晶圆表面的形貌、缺陷等,如划痕、颗粒污染等,操作简单、成本较低,但分辨率相对有限。
纳米粒度仪主要是用于测量颗粒的粒径及粒度分布等参数,通常不能直接用于分子量测试。
Zeta 电位(ζ- 电位)是指剪切面(shear plane)的电位,是表征胶体分散系稳定性的重要指标 。分散粒子表面带有电荷会吸引周围的反号离子,这些反号离子在两相界面呈扩散状态分布形成扩散双电层,根据 stern 双电层理论可将双电层分为两部分:stern 层和扩散层 。
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