产品说明

MINUK的研发思路

以往显微镜的课题

视野狭窄，异物等目标的定位耗时较长

无法判断需要观察部位的深度，必须连续拍摄多张图像才能完成定位

无法检测到肉眼不可见的纳米级细微变化

而MINUK！

仅需放置，即可实现非破坏、非接触式 3D 观测技术

无需物理调焦

随时对需要观察部位进行观测·测量！

对象物在激光照射下，由于厚度和折射率的变化波面会发生变化。

将此变化以波面传感器捕捉，使用独有的软件进行数值解析，重新生成图像。

特点

特点1

凭借宽视野（ 700μm）与高分辨率 （488nm） ，在测量对象中搜寻异物中无需耗费精力。

以往，由于视野范围狭窄，在查找异物等目标位置时，不得不反复扫描被测对象的全域。

MINUK 无需通过成像光学系统，可直接记录样品光，从根本上解决了透镜的像差问题，实现大深度、宽视野、无像差的成像效果。

特点2

可捕捉深度 1400μm 的全域信息，支持任意高度切片观测1次测量即可获取相当于数千张图像的信息量

以往，无论需要观测的位置在哪里，都需要持续拍摄数千张图像才能定位目标区域。而 MINUK 可瞬时完成 700×700μm 平面范围、1400μm 深度方向的信息采集。设备以约 2μm 的轴向分辨率生成约 700 张切片图像，通过对这些数据进行数字重聚焦处理，即可对样品三维结构开展追加验证分析。

特点3

将透过率和折射率的三维分布可视化，将肉眼无法看到的纳米级表面形状数值化

以往传统设备难以完成对焦操作，无法实现数据量化分析。而MINUK可对人眼不可见的纳米级表面形貌进行定量测量，还能检测微小的折射率变化。