产品信息

特长

坚持高精度测量

● 可即时测量绝对量子效率（绝对量子产率）

● 可去除再激发荧光发射

● 采用积分半球单元，实现明亮的光学系统。

● 低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外区的杂散光

坚持简单的操作

● 使用专用软件轻松操作

● 易于安装/拆卸样品测量池

● 节省空间且紧凑的设计

● 可以使用分光型激发光源选择任意波长。

● 通过在软件上指定激发波长的波长和步长值，可以进行自动测量。

坚持多功能

● 与粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品兼容

● 丰富的分析功能

● 量子效率（量子产率）测量

● 激发波长相关性测量

● 发射光谱测量

● PL激发光谱测量

● EEM（激发发射矩阵）测量

用法

LED 和有机 EL 荧光粉的量子效率（量子产率）测量薄膜状

样品的透射荧光/反射荧光的量子效率（量子产率）测量-远程荧光粉等的荧光样品

量子点、荧光探针、生物场、包合物等的荧光测量。

染料敏化太阳能电池的量子效率（量子产率）测量

复杂化合物的测量

高精度的原因

1. 具有积分半球的理想光学系统

QE-2000 配备有积分半球。与积分球（全局）相比，积分球具有以下特点。

由于非发光部分（支架等）可以暴露在外面，所以可以保持很小的自吸收，并且可以实现理想的光学系统。

反射镜使同一点的照度增加一倍，从而实现高灵敏度测量。

样品测量池可以轻松安装和拆卸，并且几乎没有损坏积分球内部的风险。

2.通过再激发荧光校正功能观察“真实物性值”

在包括再激发荧光发射的状态下，观察包括器件的特性，而不是对材料本身物性的观察，无法得到真实的物性值。QE-2000 可以通过利用积分半球的再激发荧光校正进行简单而准确的测量。

3.低杂散光多通道光谱检测器减少紫外区杂散光

使用传统检测器（多色仪）时，紫外区域的杂散光以高水平检测，因此不适合测量量子效率（量子产率）。大冢电子通过开发消除杂散光的技术解决了这个问题。安装在 QE-2000 上的多通道分光检测器的杂散光强度约为我们传统产品的 1/5，即使在紫外线区域也能实现高精度测量。